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Ø 纳米探针 >纳米探针:
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Ø DC,C-V,脉冲IV,SCM测量
Ø PicoCurrent识别故障候选者
Ø 自动探针对准和探针交换
Ø 自动探头着陆
Ø 敏感样品无电子束偏移
Ø 指导的工作流程,用于简单的晶体管探测
Ø 无真空室
易捷测试提供MPI高功率探针, Kelvin探针,RF射频探针,还有纳米探针。
MPI TITAN™ 射频探针采用先进的 MEMS 叶片与高质量生产制程,提供您优良的产品与稳定的量测品质。严谨制作的 TITAN™ 射频探针,MEMS 叶片均经过特性阻抗 50 Ohm 匹配,拥有优异的电性,满足用户不同频率下获得精.准校正结果之需求。MPI独特的专利针尖设计能提供绝.佳的点测可视角,同时有效减 少接触滑行距离,降低待测物受损面积,实现优异的点测重现性。
TITAN™ 系列射频探针提供单信号及双信号规格、针距范围 50 μm 至 1250 μm,频率范围 26 GHz 至110 GHz 可选购。TITAN™ 射频探针适用于射频、毫米波、至高 110 GHz 电路或连续至高 10 瓦功率型射频组件的特性描述量测,是您晶圆级 S 参数量测的选择。
从易捷测试能以无与.伦比的超实惠价格享用到耐久高性能的射频探针。
射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T26P探针 26GHz
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MPI为商用无线应用提供高功率版本的TITAN™26 GHz RF探针头。T26P探针头模型能够以高达10 W的功率进行RF测试,这是标准探头系列所能达到的功率的两倍。T26P为C波段,X波段和Ku波段应用开发功率RF器件和前端MMIC提供了较低的测试成本。
产品型号:T26P
测试类型:射频
频率范围:DC~26GH
针尖距离:100 µm至350 µm
温度范围:-60 to 200 °C
射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T40 探针|40GHz
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TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的独特结合。共面探针尖.端的特性阻抗完.美匹配,并且从整个探针到被测器件(DUT)的焊盘之间的信号传输均经过优化,可提供出色的探针电气特性。同时,探针尖.端的独特设计可在任何类型的垫金属化材料上提供少的探针前滑,从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测,且探头寿命长且拥有成本低。
TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的高.端毫米波范围探头,高频探针供应商,用于高性能微波设备的建模。
产品型号:T40
测试类型:射频
频率范围:DC~40GH
针尖距离:50µm至500 µm
温度范围:-60 to 175 °C
典型的电气特性:40 GHz GSG探针,150微米间距
射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T50|50GHz探针
TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的独特结合。共面探针尖.端的特性阻抗完.美匹配,并且从整个探针到被测器件(DUT)的焊盘之间的信号传输均经过优化,可提供出色的探针电气特性。同时,探针尖.端的独特设计可在任何类型的垫金属化材料上提供少的探针前滑,从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测,且探头寿命长且拥有成本低。
TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的高.端毫米波范围探头,用于高性能微波设备的建模。
产品型号:T50
测试类型:射频
频率范围:DC~50GH
针尖距离:50µm至250 µm
温度范围:-60 to 175 °C
典型的电气特性:50 GHz GSG探针,150微米间距
射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T110探针 | 110GHz
TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的独特结合。共面探针尖.端的特性阻抗完.美匹配,并且从整个探针到被测器件(DUT)的焊盘之间的信号传输均经过优化,可提供出色的探针电气特性。同时,探针尖.端的独特设计可在任何类型的垫金属化材料上提供少的探针前滑,从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测,高频探针供应商,且探头寿命长且拥有成本低。
TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的高.端毫米波范围探头,用于高性能微波设备的建模。
产品型号:T110
测试类型:射频
频率范围:DC~110GH
针尖距离:50µm至250 µm
温度范围:-60 to 175 °C
典型的电气特性:110 GHz GSG探针,100微米间距
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