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Ø 纳米探针 >纳米探针：

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     Ø  自动探针对准和探针交换

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     Ø  指导的工作流程，用于简单的晶体管探测

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        易捷测试提供MPI高功率探针， Kelvin探针，RF射频探针，还有纳米探针。

        MPI TITAN™ 射频探针采用先进的 MEMS 叶片与高质量生产制程，提供您优良的产品与稳定的量测品质。严谨制作的 TITAN™ 射频探针，MEMS 叶片均经过特性阻抗 50 Ohm 匹配，拥有优异的电性，满足用户不同频率下获得精.准校正结果之需求。MPI独特的专利针尖设计能提供绝.佳的点测可视角，深圳市易捷测试技术有限公司,探针大电流,易捷测试技术,同时有效减 少接触滑行距离，降低待测物受损面积，实现优异的点测重现性。

        TITAN™ 系列射频探针提供单信号及双信号规格、针距范围 50 μm 至 1250 μm，频率范围 26 GHz 至110 GHz 可选购。TITAN™ 射频探针适用于射频、毫米波、至高 110 GHz 电路或连续至高 10 瓦功率型射频组件的特性描述量测，是您晶圆级 S 参数量测的选择。

        从易捷测试能以无与.伦比的超实惠价格享用到耐久高性能的射频探针。

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      MPI为商用无线应用提供高功率版本的TITAN™26 GHz RF探针头。T26P探针头模型能够以高达10 W的功率进行RF测试，这是标准探头系列所能达到的功率的两倍。T26P为C波段，X波段和Ku波段应用开发功率RF器件和前端MMIC提供了较低的测试成本。

产品型号：T26P

测试类型：射频

频率范围：DC~26GH   

针尖距离：100 µm至350 µm

温度范围：-60 to 200 °C

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        TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的独特结合。共面探针尖.端的特性阻抗完.美匹配，并且从整个探针到被测器件（DUT）的焊盘之间的信号传输均经过优化，可提供出色的探针电气特性。同时，探针尖.端的独特设计可在任何类型的垫金属化材料上提供少的探针前滑，从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测，且探头寿命长且拥有成本低。

       TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的高.端毫米波范围探头，用于高性能微波设备的建模。

产品型号：T40

测试类型：射频

频率范围：DC~40GH  

 针尖距离：50µm至500 µm

温度范围：-60 to 175 °C

典型的电气特性：40 GHz GSG探针，150微米间距

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      TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的独特结合。共面探针尖.端的特性阻抗完.美匹配，并且从整个探针到被测器件（DUT）的焊盘之间的信号传输均经过优化，可提供出色的探针电气特性。同时，探针尖.端的独特设计可在任何类型的垫金属化材料上提供少的探针前滑，从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测，探针大电流，且探头寿命长且拥有成本低。

      TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的高.端毫米波范围探头，用于高性能微波设备的建模。

产品型号：T50

测试类型：射频

频率范围：DC~50GH  

 针尖距离：50µm至250 µm

温度范围：-60 to 175 °C

典型的电气特性：50 GHz GSG探针，150微米间距

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        TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的独特结合。共面探针尖.端的特性阻抗完.美匹配，并且从整个探针到被测器件（DUT）的焊盘之间的信号传输均经过优化，可提供出色的探针电气特性。同时，探针尖.端的独特设计可在任何类型的垫金属化材料上提供少的探针前滑，从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测，且探头寿命长且拥有成本低。

        TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的高.端毫米波范围探头，探针大电流，用于高性能微波设备的建模。

产品型号：T110

测试类型：射频

频率范围：DC~110GH   

针尖距离：50µm至250 µm

温度范围：-60 to 175 °C

典型的电气特性：110 GHz GSG探针，100微米间距