深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），自动光学AOI检测设备，专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务可读取cassette上的条形码 3）可以配置wafer正面或者背面OCR ID，自动光学AOI检测设备，深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,2D barcode读取功能通过读码，自动调取wafer map data，检查出有不良的chip时，可以人工标注并且修改该chip的map data，并且上传到工厂网络 7）可以配置FFU和Ionizer 8）可对应和区分多种cassette公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，自动光学AOI检测设备，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务

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6）可以配置独立的翻转wafer翻转机构，便于正反两面快速的检查

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