深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务 9.）可选用真空叉手，深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,edge grip叉手或者非接触式伯努利叉手 7）可以配置FFU和Ionizer 配置丰富，Option包括： 1）可以配置2个或者3个loadport，AOI显微镜，作为分选用 检查晶圆类别：崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等 2）可以配置wafer box模块，作为wafer上料用通过读码，AOI显微镜，自动调取wafer map data，AOI显微镜，检查出有不良的chip时，可以人工标注并且修改该chip的map data，并且上传到工厂网络

TSK探针台供应商_全自动电子测量仪器供应商-深圳市易捷测试技术有限公司
进料的wafer，经过正反面目检和显微镜正面micro检查，进行检查和分选 10.）显微镜处，可以追加修改wafer map data的功能

相关资讯查看