通过读码，自动调取wafer map data，3DAOI，检查出有不良的chip时，可以人工标注并且修改该chip的map data，3DAOI，并且上传到工厂网络 配置丰富，Option包括：

波导校准件厂家_Maury仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
1）可以配置2个或者3个loadport，作为分选用 检查晶圆类别：崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等 10.）显微镜处，可以追加修改wafer map data的功能 2）可以配置wafer box模块，作为wafer上料用 进料的wafer，经过正反面目检和显微镜正面micro检查，3DAOI，进行检查和分选可读取cassette上的条形码 深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer

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