操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer 深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务 9.）可选用真空叉手，waferAOI厂商，edge grip叉手或者非接触式伯努利叉手 8）可对应和区分多种cassette可读取cassette上的条形码 易捷测试提供AOI-wafer光学检查机 晶圆光学检查机，简称AOI，深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,可取代人工检查，达到检测一致性并缩短检测时间，waferAOI厂商，大幅提升产能与产品质量的重要关键，操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer 5）可以配置双臂机器人，waferAOI厂商，加宽运行速度 10.）显微镜处，可以追加修改wafer map data的功能用于数据记录和上传 进料的wafer，经过正反面目检和显微镜正面micro检查，进行检查和分选 3）可以配置wafer正面或者背面OCR ID，2D barcode读取功能

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6）可以配置独立的翻转wafer翻转机构，便于正反两面快速的检查

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