5）可以配置双臂机器人，加宽运行速度 进料的wafer，经过正反面目检和显微镜正面micro检查，进行检查和分选 9.）可选用真空叉手，edge grip叉手或者非接触式伯努利叉手 易捷测试提供AOI-wafer光学检查机

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晶圆光学检查机，深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,简称AOI，可取代人工检查，达到检测一致性并缩短检测时间，大幅提升产能与产品质量的重要关键，操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，芯片AOI检测设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，芯片AOI检测设备，提供“量体裁衣”定制化改造服务操作员不接触wafer，芯片AOI检测设备，避免了污染和损伤wafer 深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务 3）可以配置wafer正面或者背面OCR ID，2D barcode读取功能

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