通过读码，自动调取wafer map data，检查出有不良的chip时，AOI设备，可以人工标注并且修改该chip的map data，并且上传到工厂网络

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8）可对应和区分多种cassette 配置丰富，Option包括： 1）可以配置2个或者3个loadport，作为分选用 进料的wafer，经过正反面目检和显微镜正面micro检查，深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,进行检查和分选 7）可以配置FFU和Ionizer 检查晶圆类别：崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等 易捷测试提供AOI-wafer光学检查机 晶圆光学检查机，简称AOI，可取代人工检查，AOI设备，达到检测一致性并缩短检测时间，AOI设备，大幅提升产能与产品质量的重要关键，操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer

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