易捷测试提供AOI-wafer光学检查机 经验丰富的晶圆级AOI技术和供应商 以客户为导向的解决方案，高度灵活性 具有更好COO的2D / 3D解决方案的专享技术 可以集成第三方镜头和传感器进行高测量 1）双相机，几乎同一聚焦面

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2）可倾斜相机，自动光学AOI设备，加强DOF2D 和 DFF 3）扫描方向很大程度满足用户需求 4）2D,3D激光测量 线扫测量结合 5）AOI-晶圆光学检查机 Handler 标准配备1个Load port，自动光学AOI设备，单臂翻转机械手，预对准模块，目检台和显微镜 兼容8寸和12寸晶圆 标准load port可以对应FOUP，AutoFOSB自动开盖，具备Mapping功能 高精度运动机构，低噪音，低尘，无需供油 触摸屏操作,界面友好 对应GEM300，采用SEMI标准软件 用于数据记录和上传公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，自动光学AOI设备，提供“量体裁衣”定制化改造服务 6）可以配置独立的翻转wafer翻转机构，便于正反两面快速的检查 检查晶圆类别：崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等 配置丰富，Option包括： 1）可以配置2个或者3个loadport，作为分选用通过读码，自动调取wafer map data，深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,检查出有不良的chip时，可以人工标注并且修改该chip的map data，并且上传到工厂网络

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