测试设备企业 北京智能货柜生产商 北京安培通科技有限公司

通用多功能自动测试系统平台，

是北京安培通科技有限公司针对滞后的手工测试，以及为了满足PCBA 以及成品测试在操作简便性上
的需求而设计的。本系统基于VB.NTE、VC.NET、C#.NET、NI LabView 和NI Measurement Studio 等软件，于2010 自行开发的 MWELL STS 平台软件，它构建一套比较完善的PCBA 功能测试系统，运用该系统可实现对PCBA 的各种动静态参数进行快速且全面的自动测试。对于新Model 用户无需更换测试硬件，只需增加一个相应治具、编辑一个流程测试程序即可，编程最大的优点就是基于流程化的编程思路，不需要用户接触和编辑源代码，类似LabView的图形化编程软件思路。
 通用多功能自动测试系统平台采用本公司独立开发的STS 系列软件测试平台、NI 数据采集卡和系统总线、以及自动识别测试治具,并调用测试程序等一系列先进技术，可自动、快速、准确地的完成电路板的各种功能测试，可根据技术工
程人员的测试不同要求，更改测试步骤及参数，并且所有的测试结果都统计保存在系统文件中以供日后随时调用，它功能强大，可对各种PCBA 以及PCB半成品、成品进行功能化的测试，是通用化电子产品以及机电产品自动测试系统。具有其他通用仪器组合出的功能测试系统无可比拟的优势。
目前大多数工厂对PCBA 电路板的功能测试

（FCT），大多实现的是传统的一对一的方式，即一种PCBA 对应一个FCT 测试台。该种测试台由测试工程师自己设计控制电路底板，连接I/O 口到测试治具的针床，然后编写底板Firmware 模拟成品运行环境，实现对待测PCBA 电压、电流检测、以及相应时序控制。一对一的方式虽然对测试工人是一种方便，但同时也意味着资源浪费，当该Model 停产后，该FCT 测试台也往往被束之高阁了。对测试工程师不断的制版，编程，接线等等重复劳动也是一个不小的工作压力。

检测原理

通过对样板的参数采集，设定误差范围，与被测板进行比较并判断是否合格。测试操作简易化：只需手动压合针床（给出测试信号），系统就会自动进行测试和数据处理，并给出产品好坏判断结果。免去人为判断因素，其速度
是手动测试无法比拟的。系统由Rigol 数字万用表(DMM)、Rigol 可编程电源(PPS)、固定开关电源(FPS)、NI 数据采集卡(DAQ)、MWELL 独立开发的核心控制板卡和测试软件组成，外接可编程AC/DC 电源和直流负载，高采样率产品可
选配外接示波器。系统对PCBA 多信号可同步测试，人性化的操作界面、模块化的编程环境以及机种（Model）的方便转换，为企业节省人力物力，提高生产效率，从而给企业带来经济效益。

数控机床上下料机器人厂-PCBA测试设备价格低-北京安培通科技有限公司

产品特点

1. 系统采用高精度测量模块，测试效率(约0.2

秒/步)和精度极高；

2. 具有完善的自检功能，可以随时对系统进行

自我检查与维护；

3. 具有自动学习功能，可根据被测对象的特性，

自动选择和设置测量状态，提高测量精度；

4. 具有可编程测试功能，针对不同的测试板，

只需更换治具和简单学习、编程即可，降低

了二次投入成本；

5. 采用模块化设计，具有极强的通用性和扩展

性，可以根据客户要求在IO 通道上灵活扩

展，以满足客户多样性需求；

6. 系统具有标准USB 接口，可对万用表等USB

接口仪器进行操作；

7. 软件功能强大，系统具有灵活、简便的人机

对话界面，方便用户编程与测试；结构紧凑

实用，系统可靠性高，适合直接放置在生产

线上使用。

随着半导体元件的设计日益复杂，测试在整体IC成本中所占的比例不断成长。传统射频与混和讯号IC测试有时会在特性测试实验室中进行，以便透过机架堆叠式箱型仪器取得高品质量测结果，但此方式无法处理大量晶片。PXI模组仪器将是解决这个问题的理想方案。　　　　半导体产业自发展之初，奉行的原则就是持续改善效能与降低成本，换句话说，就是以有限的成本发挥最高价值。不过，除了装置日趋复杂、产品周期缩短、无情的成本压力外，测试在整体IC成本中所占的比例也不断成长，成为产品开发周期中不容忽视的一环。传统IC测试方式耗时费力　　　　就RF与混合式讯号IC来说，大部分测试都是在生产环境中透过自动化测试设备(AutomatedTestEquipment,ATE)，或是在特性测试实验室(CharacterizationLab)中透过机架堆叠式箱型仪器而完成的。典型的机架堆叠式箱型仪器可提供高品质的实验室等级量测结果，但是容量有限，不仅无法处理大量零件，测试时间也比ATE慢。　　　　在特性测试实验室使用ATE的做法也不算罕见，但其实还是有限。采用ATE的好处之一，就是能对较多样本集进行特性测试，让特性测试资料具备统计显着性，藉此确保规格设计。然而，使用大型主机ATE执行特性测试时，就必须面对昂贵的资金成本、占地空间、能耗需求等问题。因此，有能力在特性测试实验室使用ATE的顶级IC制造厂几乎是寥寥可数。　　　　对大多数透过机架堆叠式箱型仪器进行特性测试、在生产环境中使用ATE的IC厂商而言，为实验室资料与生产资料建立关联作业又是一件极度耗时的工作。由于资料集来自完全不同的测试设备，资料关联作业往往可能需要数周的时间，这点大幅影响了产品开发周期。　　　　由于制程尺寸不断演变，特别是光罩的成本一路飙升，导致晶圆制程的整体成本不断上扬，IC制造厂必须设法将昂贵的光罩组的重新设计成本降至最低。因此，在特性测试作业中，从具有统计显着性的装置群体中，针对每个矽晶版本取得详细测试资料，就显得更加重要。这时老问题再度浮现：在特性测试实验室中使用机架堆叠式箱型仪器会受到限制，难以同时执行大量的装置。　　　　降低测试难度/成本PXI架构为理想选择　　　　对身经百战的测试人员来说，理想的解决方案是在特性测试实验室中导入可充分扩充的单一ATE平台，再把相同的系统部署到生产线上。这样不但能解决在特性测试阶段执行大量样本的问题，还能达成提供资料关联的目的。厂商仍须进行关联作业，不过由于使用了相同的软硬体，工作将会大幅简化，进而节省作业时间并改善产品开发周期。这个概念看似单纯，执行起来却困难重重，一部分原因是它跨越了箱型仪器厂商与传统ATE厂商的市场边界。　　　　就射频IC(RFIC)制造厂而言，尤其是涉及RF功率放大器或前端模组等RF前端IC领域者，将传统ATE应用在生产作业会带来更多挑战，主因就是瞬息万变的RF标准，导致测试需求快速改变。　　　　许多顶级RFIC制造厂现在会在生产过程中，执行以往视为特性测试性质的测试，谐波量测就是一个例子。在生产过程中实作这类特性测试之后，使用传统ATE的困难度就更高。因此，部分RFIC制造厂选择建置专属的生产测试系统，而大部分都会采用PXI架构。　　　　PXI平台是国家仪器(NI)在1997年推出的开放式平台，目前已快速导入多种自动化测试应用(图1)。这套构想相当简单，就是采用工业用强化机型的电脑架构仪控设备，搭配整合式计时与同步处理功能及高生产力软体，现已成为自动化测试系统的最佳选择之一。　　　　PXI平台已于各大产业广泛采用，未来成长持续看好　　　　PXI平台的成长速度已远远超过其他仪器类型，例如传统的箱型仪器与大型主机ATE。截至2014年底，已有九千组以上的PXI系统投入大量制造测试环境中，其中更有超过一千组安装到半导体产业的供应链。经济稳定性是PXI平台的一大优势，唯有透过同时应用于航太与国防、能源、汽车、消费性电子及半导体等众多产业，才能达成这样的成果。由于各行各业广泛采用PXI，在这庞大规模经济的加持下，PXI可降低成本、提高效能，并坐拥强劲的经济实力，相较于其他仰赖单一产业的测试平台，更能轻松度过不同的产业周期性波动。　　　　结合PXI平台优势STS满足各生产测试环境　　　　由于PXI平台已经成熟，各界导入的系统级产入速度也不断加快，于是能满足半导体生产测试环境营运的半导体测试系统也相继问世，如NI的STS(SemiconductorTestSystem)(图2)就专为此打造。这类仪器结合PXI的开放效能与灵活弹性，以及半导体生产测试单元的需求，例如分类机与针测机整合、弹簧探针待测装置(DUT)衔接及系统等级的校准功能等。　　　　TestStand是STS的软体骨干，这套立即可用的测试管理软体能管理以labview或.NET环境撰写的程式码模组;TestStand半导体模组(TestStandSemiconductorModule)能提供其他的半导体产业专属功能，例如针对DUT为主程式设计提供的接脚/通道对应功能、可容许客制的操作介面、进阶分类(AdvancedBinning)、标准测试资料格式(STDF)资料报告功能，以及内建的多站点支援。换言之，也就是能迅速扩充针对单一站台操作而撰写的测试程式，以支援多站点测试用途。　　　　STS提供T1、T2、T4等三种规格，可分别容纳一、二、四个PXI机箱;而其中的十八个插槽(19寸4U机架)都可共用一般的转接板(LoadBoard)、接线与仪控设备。　　　　因为STS的扩充性，所以可部署于特性测试实验室中。例如，STST1的体积不会超过标准19寸机架型仪控设备的尺寸。无论是尺寸、成本或测试系统功能，STS对特性测试实验室来说都是非常实用的选择，它也能衔接装置分类机或针测机，针对大量DUT进行测试。　　　　此外，STST2或T4也能使用相同的软体、接线与仪控设备设定，用来执行更多生产过程中的测试站点，达到更高的产能。由于所有的测试程序、转接板、接线与仪控设备等软硬体都是相同的，资料相关性作业就会大幅简化，进而缩短产品的开发周期并加快上市时间。　　　　由于STS是采用PXI架构的产品，只要有最新的多核心微处理器或尖端PXI仪器问世，测试系统的效能就会持续改进。这种采用平台架构的方式能为使用者带来保障，确保STS的效能将伴随PXI的改进而持续成长，而半导体产业的创新技术也有助达成这项目标。　　　　维持灵活弹性满足营运需求　　　　这种技术具有出色的影响力与开放性，因此营运人员可能会担心测试系统版本能否严格控制的问题。但STS在设计之初就有此列入考量。客户订购特定组态的测试系统时，就能以完全相同的软硬体复制出相同成品，确保全球任何生产部署环境都拥有一致的测试系统。对使用者来说这将可创造双赢局面，不仅能享有必要的弹性，一旦锁定组态后，营运人员还能完全掌握版本控制权，满足营运的需求。　　　　简言之，以快速成长的PXI平台为基础以发展半导体测试系统，将有机会成为PXI半导体测试上的新主流。这种方式不仅在经济与技术面占尽优势，还能以颠覆性的成本打造出性能卓越的测试系统。甚至可以说：STS解决测试挑战的方法，与半导体产业本身解决成长挑战的方法十分类似，也就是持续以有限成本发挥最高的价值。 9/29/2011;近日，日海通讯子公司日海设备出资2475万元，出资比例为99%，与陈洋先生设立控股子公司日海傲迈光测技术有限公司。日海傲迈公司经营范围为光线路测量监测、光学传感监测、光学分析检测、光电器件、仪器仪表、光通信产品及相关管理系统的研发、销售、咨询和技术服务。此举表示日海通讯积极进入光通信测试设备这个壁垒高且被海外厂商瓜分的市场，预计公司将依靠在光通信行业的长期积累，以性价比优势进行进口替代。预计此项新开展的光通信测试设备业务2012年开始贡献收入，带来新的利润增长点。至此，日海公司眼光长远，不仅仅满足于ODN，已经具有围绕ODN配线业务，上游拓展至芯片生产，下游至工程服务的ODN完整产业链。 　　为严格确保产品质量，力维新生产基地在测试实验和质检方面加大投入力度。其中，研发拷机试验室可提供全天候的摄像机产品拷机，同步拷机数量可达100台。可靠性试验室测试项目包括防水测试、振动测试等，测试产能在业界处于领先水平。振动测试设备可以完成随机振动、扫频等多种振动测试，可满足裸机和包装运输等试验要求。中试试验室可完成新产品导入的可生产性、工艺结构等测试。在IQC检验区，增加了高度规、大理石台面等仪器，结构件检验能力大幅提升。此外，在工厂环境监控方面，除了加强温湿度监控，还增加灰尘度测试仪器，加强工厂环境的防尘，保障摄像机产品\"洁净化\"生产环境。 .北京安培通科技有限公司___测试设备企业 北京智能货柜生产商 北京安培通科技有限公司

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