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产品名称: ESD测试

ESD测试

产品价格:面议

产品数量:999

保质/修期:1

保质/修期单位:

更新日期:2021-08-14

产品说明

 ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。

静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备

Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。

4)HED-N5000 全自动ESD测试系统

 可以测试多达1056 pin的器件

 占用空间小

 适用于ESD测试和latch-up测试,符合新测试标准,

 板上可容纳8个插座。

 符合标准(JEDEC,ESDA)与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容

CDMESD测试系统_晶圆仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
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5)HED-W5000M 晶圆ESD测试机

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。

 价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。

 专配软件可用于泄漏测量和判断。

  适用于大多数类型的手动探针台。

6)HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。

 高可支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案

测试效率高,自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试

同时支持package测试

  配备CCD相机

  可以与Hanwa TLP测试仪,HED-T5000和T5000VF

  Woks 集成在一起,作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。

   SCM(10pF浪涌)选项可用。

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。

静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备

Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。

1)HCE-5000 紧凑型ESD测试机

超紧凑型便携式ESD测试机 (HBM,MM,HMM)测试仪

 独立的测试系统,携带方便,空间占用率小,性价比好

 不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试

 适用于现场测试。配有曲线跟-踪-器,用于通过/失败判断,推荐给IC制造商和最终用户。

全自动芯片分选机哪个厂家质量好_晶圆分拣仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
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2)HED-C5000 CDM测试机

此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备

 符合JEDEC、ESDA、JEITA标准

 可快速转换不同标准的测试

 台式尺寸,紧凑,准确可靠的CDM测试仪。

 配备的CCD摄像机

  提供FI-CDM和D-CDM模式。

 可以测量每个引脚的电容。

广东国产探针台设备_射频仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
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3)HED-T5000 TLP测试机

HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP 测试机 

 用于获取器件保护电路的相关参数特性

 为器件升级提供支持,缩短产品周期

 提供普通和VF(非常快)型号。VF模型提供正常(100nm / 200nm)和VF(1nm-)脉冲宽度。

 具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。

 可与HED-W5000,ESD(HBM,MM)测试仪结合使用现在提供大电流输出型号(T5000-HC)。

全自动芯片分选机技术_晶圆分拣仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
全自动芯片分选机技术_晶圆分拣仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司

深圳市易捷测试技术有限公司,全自动ESD测试失效分析,简称易捷测试(GBIT),成立于2011年,总部设在深圳 ,并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备,并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案,也能为客户提供系统化国产化改造服务。

静电放电(ESD: Electrostatic Discharge),应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏),全自动ESD测试失效分析,所以这种损伤是毁灭性的,会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。

易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括:ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。

1)HCE-5000 紧凑型ESD测试机

2)HED-N5000全自动ESD测试系统

3)HED-C5000 CDM测试机

4)HED-T5000 TLP测试机

5)HED-W5000M晶圆ESD测试机

6)HED-W51000D 全自动晶圆ESD测试机

    如今,在海域周边主要出入城市道路位置,高清智能卡口车辆监测记录系统兢兢业业地工作着。据了解,该系统配套一体化嵌入式高清网络WIFI探针卡口摄像机,全自动ESD测试失效分析,实现对过往车辆进行自动监测和数据抓拍处理。采用线圈检测为主、视频检测为辅的检测方式,记录车辆照片、前排司乘人员面目特征、识别车牌号码和车身颜色等信息。同时卡口摄像机除输出高清图片流外,还可输出高清视频流实时传回监控中心后台结合GIS地图以及辖区各区域的抓拍数据,明确该车运动轨迹给辖区治安管理得到很好的便捷性,实现各出入路口的重点防控。 当今的机械加工更趋向于高精度、多品种、小批量、低成本、短周期和复杂化的加工,复合加工是数控机床的一个重要技术发展方向。复合功能使数控机床显着提高了工件成品的生产速度,能够大大消除散列工序加工过程中的运输、装夹及等待时间,使加工周期大大缩短并降低加工车间的在制品数量。工件在机床上只有一次装夹定位,既减少了加工辅助时间,又提高了工件的加工精度。显然,复合加工机床对自动化产品的要求更高。复合功能的实现依赖于针对工件和刀具的实时检测与智能判断、数据运算、刀具管理及系统控制。高灵敏度的探针、高速处理芯片、体积更小、响应速度更快的传感器和执行器等自动化产品和技术在机床上将会得到更为广泛的应用。   科研工作立足于当前智能手机及WiFi网络的应用普及现状,以2路公交线13辆公交车为试点,安装了车载WiFi探针设备,利用WiFi探针获取乘客手机的唯一性MAC地址,进行了长达两个月的数据收集,通过数据匹配、清洗、汇总、梳理,完成了公交线路OD、通勤OD、重点区域OD及站点客流分析,并成功开发应用了公交出行分析系统,对线路日运行和月度运行状况进行系统分析,筛选出“浙北大厦-人民广场”、“江南粮贸市场-中心医院”、“人民广场-吉山三村”等十大OD出行热点及“广电大厦-职业技术学院”、“江南粮贸市场-星汇半岛”、“姚家桥-玉堂桥小区”等十大通勤OD热点,完成了中心医院、月河小学等重点区域的OD来源全面分析,发现了2路公交客流以短途出行为主的出行规律,及新华路、苕溪西路与人民路等低速运行路段,为线路优化提供了科学、可靠的数据支撑。


供应商信息

公司名称:深圳市易捷测试技术有限公司

公司地址:深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A

所属行业:其他未分类

联系人:张 女士

手机号码:18127076421