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　　易捷测试（GBIT）致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装系统以及材料测试等系统集成方案.特别是我们提供的探针台系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件测试，硅光子测试、晶圆级失效分析、芯片光耦合，霍尔测试，CP测试等晶圆测试环节.经营产品包括：大功率探针台；2）150mm探针台；3）200mm自动探针台；4）300mm全自动探针台，5）6寸手动探针台，8寸自动探针台，12寸自动探针台，6）在片测试，7）探针台控制软件；8）高低温探针台；9）探针台CASCADE；10）全自动探针台；11手动探针台；12）半自动探针台；13）太赫兹探针台；14）毫米波探针台；15）硅光探针台；16）辐照探针台；17）高压高流测试系统，18）CP测试系统；19）射频探针台.