T26P探针头模型能够以高达10W的功率进行RF测试，这是标准探头系列所能达到的功率的两倍!T26P为C波段，X波段和Ku波段应用开发功率RF器件和前端MMIC提供了较低的测试成本.产品型号：T26P测试类型：射频频率范围：DC~26GH针尖距离：100µm至350µm温度范围：-60to200°C典型电气特性：26GHzGSG探头，间距为125微米射频探针|MPI直流/高压/射频/光电探针台-T40探针|40GHzTITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的结合!

　　公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器！服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件。等.作为信息探测工具来说，探针是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试.易捷测试提供MPI高功率探针，Kelvin探针，RF射频探针，还有纳米探针！

　　产品型号：T40测试类型：射频频率范围：DC~40GH针尖距离：50µm至500µm温度范围：-60to175°C典型的电气特性：40GHzGSG探针，150微米间距作为信息探测工具来说，探针是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。易捷测试提供MPI高功率探针，Kelvin探针，RF射频探针，还有纳米探针。MPITITAN™射频探针采用先进的MEMS叶片与高质量生产制程，提供您优良的产品与稳定的量测品质!

　　HyperionII纳米探针用于晶体管测试的纳米探测ØDC，C-V，脉冲IV，SCM测量ØPicoCurrent识别故障候选者Ø自动探针对准和探针交换Ø自动探头着陆Ø敏感样品无电子束偏移Ø指导的工作流程，用于简单的晶体管探测Ø无真空室射频探针|MPI直流/高压/射频/光电探针台-T26A探针26GHzMPI探针是低成本高性能的RF探针.专门开发的SMA连接器及其通过探针设计的出色电磁波传输能力使这些探针适用于高达26GHz的应用频率！

半导体测试探针

　　包括：●26GHz射频探针T26●HP射频探针T26P●40GHz射频探针T40●50GHz射频探针T50●67GHz射频探针T67●110GHz射频探针T110●26GHz射频探针T26D●220G高频探针●开尔文探针纳米探针：ØDC，C-V，脉冲IV，SCM测量ØPicoCurrent识别故障候选者Ø自动探针对准和探针交换Ø自动探头着陆Ø敏感样品无电子束偏移Ø指导的工作流程，用于简单的晶体管探测Ø无真空室射频探针|MPI直流/高压/射频/光电探针台-T26P探针26GHzMPI为商用无线应用提供高功率版本的TITAN™26GHzRF探针头！

　　严谨制作的TITAN™射频探针，MEMS叶片均经过特性阻抗50Ohm匹配，拥有优异的电性，满足用户不同频率下获得校正结果之需求。MPI的专利针尖设计能提供很好的点测可视角，同时有效减少接触滑行距离，降低待测物受损面积，实现优异的点测重现性!TITAN™系列射频探针提供单信号及双信号规格、针距范围50μm至1250μm，频率范围26GHz至110GHz可选购！TITAN™射频探针适用于射频、毫米波、至高110GHz电路或连续至高10瓦功率型射频组件的特性描述量测，是您晶圆级S参数量测的上佳选择。

　　共面探针尖的特性阻抗匹配，并且从整个探针到被测器件（DUT）的焊盘之间的信号传输均经过优化，可提供出色的探针电气特性。同时，探针尖的设计可在任何类型的垫金属化材料上提供探针前滑，从而在110GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量！TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测，且探头寿命长且拥有成本低!TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110GHz的S参数表征的毫米波范围探头，用于高性能微波设备的建模。