深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。

公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，探针规格，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。

作为信息探测工具来说，探针是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。

易捷测试提供MPI高功率探针， Kelvin探针，RF射频探针，还有纳米探针。

包括：

●26GHz射频探针 T26

●HP射频探针 T26P

●40 GHz射频探针 T40

●50GHz射频探针 T50

●67 GHz射频探针 T67

●110 GHz射频探针 T110

●26 GHz 射频探针 T26D

●220G高频探针

●开尔文探针

半自动倒装焊设备_芯片仪器仪表厂商-深圳市易捷测试技术有限公司

纳米探针：

Ø  DC，C-V，脉冲IV，SCM测量

Ø  PicoCurrent识别故障候选者

Ø  自动探针对准和探针交换

Ø  自动探头着陆

Ø  敏感样品无电子束偏移

Ø  指导的工作流程，用于简单的晶体管探测

Ø  无真空室

探针台探针_测试针探针相关-深圳市易捷测试技术有限公司

作为信息探测工具来说，探针是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。

易捷测试提供MPI高功率探针， Kelvin探针，RF射频探针，还有纳米探针。

全自动芯片贴片机_自动贴片机相关-深圳市易捷测试技术有限公司
   
同轴校准件_模具标准件相关-深圳市易捷测试技术有限公司

倒装焊封装_Flip-chip仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司

MPI TITAN™ 射频探针采用先进的 MEMS 叶片与高质量生产制程，提供您优良的产品与稳定的量测品质。严谨制作的 TITAN™ 射频探针，MEMS 叶片均经过特性阻抗 50 Ohm 匹配，探针规格，拥有优异的电性，满足用户不同频率下获得校正结果之需求。MPI的专利针尖设计能提供很好的点测可视角，同时有效减 少接触滑行距离，降低待测物受损面积，实现优异的点测重现性。

TITAN™ 系列射频探针提供单信号及双信号规格、针距范围 50 μm 至 1250 μm，频率范围 26 GHz 至110 GHz 可选购。TITAN™ 射频探针适用于射频、毫米波、至高 110 GHz 电路或连续至高 10 瓦功率型射频组件的特性描述量测，是您晶圆级 S 参数量测的上佳选择。

Hyperion II 纳米探针用于晶体管测试的纳米探测

Ø  DC，C-V，脉冲IV，SCM测量

Ø  PicoCurrent识别故障候选者

Ø  自动探针对准和探针交换

Ø  自动探头着陆

Ø  敏感样品无电子束偏移

Ø  指导的工作流程，用于简单的晶体管探测

Ø  无真空室

射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T26A 探针 26GHz

MPI探针是低成本高性能的RF探针。专门开发的SMA连接器及其通过探针设计的出色电磁波传输能力使这些探针适用于高达26GHz的应用频率。对GS/SG和GSG探针头配置，可用的螺距范围为50微米至1250微米。当开发WiFi，蓝牙和3G/4G商业无线应用，以及学术教育用途时，TITAN™26 GHz探针是可满足以上需求的理想选择。

射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T26P探针 26GHz

MPI为商用无线应用提供高功率版本的TITAN™26 GHz RF探针头。T26P探针头模型能够以高达10 W的功率进行RF测试，这是标准探头系列所能达到的功率的两倍。T26P为C波段，X波段和Ku波段应用开发功率RF器件和前端MMIC提供了较低的测试成本。

产品型号：T26P

测试类型：射频

频率范围：DC~26GH

针尖距离：100 µm至350 µm

温度范围：-60 to 200 °C

典型电气特性：26 GHz GSG探头，间距为125微米

射频探针|MPI 直流/高压/射频/光电探针台-T40 探针|40GHz

TITAN™探针实现了基于微同轴电缆的探针技术与MEMS制成的探针头的结合。共面探针尖的特性阻抗匹配，并且从整个探针到被测器件（DUT）的焊盘之间的信号传输均经过优化，可提供出色的探针电气特性。同时，探针尖的设计可在任何类型的垫金属化材料上提供探针前滑，从而在110 GHz的频率范围内实现准确且可重复的测量。TITAN™探头适用于在小焊盘上进行探测，且探头寿命长且拥有成本低。

TITAN™探头系列包含用于RF和毫米波IC的工程和设计调试的双探头以及用于高达110 GHz的S参数表征的毫米波范围探头，用于高性能微波设备的建模。

产品型号：T40

测试类型：射频

频率范围：DC~40GH   

针尖距离：50µm至500 µm

温度范围：-60 to 175 °C

典型的电气特性：40 GHz GSG探针，150微米间距

太赫兹探针台在片测试_半自动探针台相关-深圳市易捷测试技术有限公司