专业原子力显微镜生产 显微镜供应商 上海彼爱姆光学仪器制造有限公司 原子力显微镜FM-Nainoview 6800AFM 一、功能特点 1. 光机电一体化设计，外形结构简单； 2. 扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强； 3. 精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便； 4. 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描； 5. 伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位； 6. 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域； 7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择； 8. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大； 9. 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护； 10. 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。 二、友好的软件 1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像 2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式 3. 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图 4. 多种曲线力-间距（F-Z）、频率-RMS（f-RMS)、RMS-间隙（RMS-Z)测量功能 5. 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域 6. 激光光斑检测系统的实时调整功能 7. 针尖共振峰自动和手动搜索功能 8. 可任意定义扫描图像的色板功能 9. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能 10. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正 11. 支持样品图片离线分析与处理功能 原子力显微镜FM-Nainoview 6800AFM 一、功能特点 1. 光机电一体化设计，外形结构简单； 2. 扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强； 3. 精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便； 4. 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描； 5. 伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位； 6. 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域； 7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择； 8. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大； 9. 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护； 10. 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。 二、友好的软件 1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像 2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式 3. 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图 4. 多种曲线力-间距（F-Z）、频率-RMS（f-RMS)、RMS-间隙（RMS-Z)测量功能 5. 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域 6. 激光光斑检测系统的实时调整功能 7. 针尖共振峰自动和手动搜索功能 8. 可任意定义扫描图像的色板功能 9. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能 10. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正 11. 支持样品图片离线分析与处理功能 原子力显微镜FM-Nainoview 6800AFM 一、功能特点 1. 光机电一体化设计，外形结构简单； 2. 扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强； 3. 精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便； 4. 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描； 5. 伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位； 6. 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域； 7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择； 8. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大； 9. 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护； 10. 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。 二、友好的软件 1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像 2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式 3. 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图 4. 多种曲线力-间距（F-Z）、频率-RMS（f-RMS)、RMS-间隙（RMS-Z)测量功能 5. 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域 6. 激光光斑检测系统的实时调整功能 7. 针尖共振峰自动和手动搜索功能 8. 可任意定义扫描图像的色板功能 9. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能 10. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正 11. 支持样品图片离线分析与处理功能

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